光斑分析儀簡介
光研科技自主研發的光斑分析儀可實現激光光斑檢測及測試應用。為客戶提供定制光束質量分析一體化設計解決方案，并支持多應用開發。通過光束分析裝置一體化設計，配套衰減方案設計，支持實時曝光及增益調節。適用在半導體激光器，固體激光器，光纖激光器，超快激光器，激光測距等領域。目前已作為成熟產品在市場推廣，性價比很高，得到大量客戶認同。現公司研發部可根據客戶不同需求進行模塊化定制。
產品特點：
可選超寬光譜多波長系列產品，覆蓋紫外到長波紅外波長范圍。
較寬的光斑直徑測量范圍：光斑直徑范圍可滿足目前市場大部分的光斑產品范圍，部分產品支持更小光斑拓展。
光斑分析儀一體化設計，配套衰減方案設計：設備自帶吸收衰減裝置，測低功率的毫瓦級激光，也可根據不同功率激光測試的需求，提供可選的衰減方案，無需準備其他配件即可快速測量。
軟件全自主開發，可提供底層通訊協議.
高性價比，可代替進口激光光束質量分析儀，實現激光光斑檢測及測試應用
產品光譜覆蓋范圍：
產品功能
Beamfiler是一款用于Windows系統的激光光束分析產品，其特點以及功能包括：
高速度、高分辨率顯示2D和3D偽彩色光束輪廓
支持Windows XP Service Pack 3或更高版本的操作系統
支持控制相機的曝光、增益和分辨率
實時進行光斑的偽彩色2D顯示、長短軸的高斯曲線顯示
支持2D模式下的連續縮放
測量光斑的長短軸、橢圓率、旋轉角等參數
支持參數的統計分析
記錄和導出參數，或者生成報告
讀取光斑圖片并測量參數
多選擇的圖片保存功能
支持USB3.0接口
可定制拓展功能
組成部件
傳感器，配備數據連接線
Beamfiler操作軟件
可選衰減配件
需求定制：可為客戶定制不同需求的光斑分析儀，不同的激光束直徑，激光功率等。
Beamfiler UV系列
性能特點：
- 適用于190~1100nm范圍內的光斑測量
- 兩款不同探測面積產品可選，探測面積可達2/3?
- 高分辨率，像素大小3.45μm
- 支持手動和自動實時曝光及增益調節
- 數據接口USB3.0，GigaEthernet
產品型號：
Beamfiler NIR系列
性能特點：
- 本系列產品具備高分辨率和小像素尺寸的特點，像素尺寸min可達1.85μm
- 可根據實際光斑大小，選擇不同型號的產品，max光斑尺寸可達10mm
- 光束分析裝置一體化設計，配套衰減方案設計
- 支持手動和自動實時曝光及增益調節
- 高性價比，可代替進口激光光束質量分析儀，實現激光光斑檢測及測試應用
典型應用：
- 需要對激光光斑形狀進行檢測得場合，如激光生產，維護以及激光應用；
- 光學器件質量檢查；
- 激光腔鏡調整；
- 外光路準直；
- 光纖對準耦合分析等。
產品型號：
Beamfiler SWIR系列
通信用光束質量分析儀
為了滿足通訊領域中廣大客戶的需求，并提高客戶的工作效率和降低客戶的生產成本，設計專門用于通訊領域的光束分析儀，主要用于測量850nm，1310nm和1550nm等通訊波長的激光光束的光斑大小、橢圓度、功率等，實時監測光束形狀以及變化，非常適合于通信用激光光源，高速光纖器件的光束定位和對準。
產品特點：
波長響應范圍400nm~1700nm
實時監測光束形狀以及變化
分辨率高，高準確度
兼容測量連續以及脈沖激光器
典型應用：
激光束輪廓分析
電信設備制造控制
產品型號：
此系列光斑質量分析儀，在使用過程中始終注意損傷閾值的范圍，保持在飽和閾值度以下，以確保安全的功率水平，光斑分析儀的傳感器如果損壞更換費用特別高。
Beamfiler LWIR系列
Beamfiler LWIR系列光斑分析儀是長波紅外范圍內激光器光斑檢測方案。Beamfiler LWIR系列光斑探測相機擁有17微米的像素、8 μm-124μm的波長范圍和一個集成快門，具有無可比擬的光束擴展能力。此款相機具有非常高的靈敏度，集成的快門可以進行全自動的非均勻性校正。
產品特點：
可測量激光光斑形態，具有豐富的圖像處理功能。
波長響應8 μm-14μm
像素大小17 μm， 集成式快門
數據接口GigaEthernet
典型應用：
LWIR/CO2激光輪廓分析
產品質量監控
產品型號：
軟件概述
● 軟件支持Win7, Win8 (32/64 位)及以上系統
● 多開 (同時打開多個程序實例)
● 支持 USB/火線/CameraLink 相機
測試界面
窗口
● 二維視圖
● 三維視圖
● XY截面視圖
標準功能
常用功能
● ROI 調整 (質心、峰值、光束寬度)
● 計算 (閾值級別、最高像素)
● 縮放功能 (所有可視化和測量窗口)
導入
● 數據 (CSV)
● 灰度圖像8位
導出
● 數據 (CSV)
● 圖像 (BMP /PNG)
● 灰度圖像8位
數據監測
● 峰值、質心 X/Y、
● 光束寬度:D4、DPK、DT
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